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國(guó)產(chǎn)數(shù)字機(jī) 測(cè)試中國(guó)芯
加速科技高性能數(shù)?;旌闲盘?hào)測(cè)試設(shè)備ST2500EX精彩亮相SEMICON China 2024
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芯片是現(xiàn)代信息技術(shù)發(fā)展的重要支柱,半導(dǎo)體設(shè)備則是芯片產(chǎn)業(yè)發(fā)展的重要基石。近年來(lái),半導(dǎo)體設(shè)備領(lǐng)域開(kāi)啟了國(guó)產(chǎn)自研的黃金浪潮,其中,測(cè)試機(jī)作為芯片測(cè)試中至關(guān)重要的核心設(shè)備之一,國(guó)產(chǎn)自研率較低,一直是國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體設(shè)備行業(yè)亟待補(bǔ)齊的核心短板。
在剛剛落幕的SEMICON China 2024 展會(huì)上,加速科技不僅展示了系列拳頭產(chǎn)品,更帶來(lái)了一款備受矚目的新產(chǎn)品——全自研高性能數(shù)?;旌闲盘?hào)測(cè)試設(shè)備ST2500EX。這款設(shè)備目前已量產(chǎn),性能成熟穩(wěn)定,媲美進(jìn)口先進(jìn)機(jī)型,具備卓越的高密度、高效率、高性價(jià)比等特點(diǎn)。當(dāng)前,ST2500EX已批量入駐測(cè)試生產(chǎn)一線服務(wù)客戶進(jìn)行量產(chǎn)工作。
圖|ST2500EX高性能數(shù)模混合信號(hào)測(cè)試設(shè)備
01 硬件資源
高性能數(shù)模混合信號(hào)測(cè)試設(shè)備ST2500EX,集成數(shù)字、模擬信號(hào)測(cè)試功能。單機(jī)臺(tái)最高支持32塊板卡,最高支持1024 I/O通道。設(shè)備采用Direct Docking連接方式,在大幅提升晶圓測(cè)試穩(wěn)定性的同時(shí),兼容J Type針卡,可幫助客戶降低轉(zhuǎn)平臺(tái)治具成本。ST2500EX還具有靈活的可擴(kuò)展性,為后期擴(kuò)展混合信號(hào)模塊、射頻模塊奠定了良好基礎(chǔ)。此外,該設(shè)備兼容ST2500的功能板卡,支持250Mbps/500Mbps測(cè)試速率,面向高速多通道測(cè)試場(chǎng)景,具有極高性價(jià)比。
圖|CP測(cè)試示意圖
02 業(yè)務(wù)板卡
功能集成、測(cè)試精度、響應(yīng)速度、可拓展性是測(cè)試設(shè)備的技術(shù)核心,同時(shí),測(cè)試設(shè)備在電流、電壓、電容、時(shí)間量等參數(shù)方面的測(cè)試精度、測(cè)試速度、通道和工位數(shù)也是重要的考量指標(biāo)。ST2500EX在這些指標(biāo)上都有著出眾的表現(xiàn)。
圖|ST2500EX演示高速信號(hào)測(cè)試
ST2500EX配置了DFB32、SMU20、MWB8等資源板卡。DFB32全功能業(yè)務(wù)板采用先進(jìn)的FPGA實(shí)現(xiàn),單板集成數(shù)字模擬混合信號(hào)功能,包含32個(gè)250Mbps/500Mbps數(shù)字通道,每通道192M Vector存儲(chǔ)深度,4路DPS,4路100MHz TMU,1路2MSPS AWG,1路1MSPS DGT。在實(shí)現(xiàn)高性能實(shí)時(shí)測(cè)試和數(shù)據(jù)傳輸?shù)耐瑫r(shí),更實(shí)現(xiàn)了高精度測(cè)量。
MWB8 音頻板支持 8chAWG,8chDGT 并行測(cè)試,支持差分/單端配置。板卡 AWG
通道 THD 最高可達(dá)-125dB@1V RMS,1kHz,SNR 最高可達(dá) 115dB@3.5V RMS 1KHz , 22kHz Bandwidth;輸出電壓的最大范圍為 4V。DGT 支持差分輸入,24位分辨率,256kSPS采樣率;輸入電壓范圍+/-6V,在0.5dBFS/sinewave/1KHz/with DPD/6Vrange條件下,SNR 最高105 dB,THD-115dB。
SMU20 模塊有 4ch 完全獨(dú)立的電壓電流源,提供精密四象限恒壓、恒流、測(cè)壓、測(cè)流功能。電壓最大范圍±20V,電流最大范圍±500mA。SMU20 同時(shí)支持 4ch Gang 使用,最高可以提供 2A 的電流。
03 測(cè)試軟件系統(tǒng)
ST2500EX數(shù)模混合信號(hào)測(cè)試設(shè)備提供一整套基于Windows系統(tǒng)的集成開(kāi)發(fā)軟件。ST-IDE軟件提供用戶友好的開(kāi)發(fā)環(huán)境,豐富的開(kāi)發(fā)和調(diào)試工具(AWG、DGT、Pattern、LA等),縮短產(chǎn)品開(kāi)發(fā)調(diào)試到量產(chǎn)交付生產(chǎn)周期。
該軟件系統(tǒng)配套豐富的pattern轉(zhuǎn)換工具,方便WGL、STIL、VCD等仿真文件轉(zhuǎn)換為測(cè)試機(jī)pattern,同時(shí)支持友商平臺(tái)pattern 轉(zhuǎn)換,有效提高調(diào)試效率。
針對(duì)工廠量產(chǎn)提供專門GUI,數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)顯示監(jiān)控,提供豐富的數(shù)據(jù)記錄分析工具,支持定制化工廠系統(tǒng)測(cè)試方案,方便批量測(cè)試和對(duì)接工廠管理系統(tǒng)。
智能軟硬件監(jiān)控系統(tǒng),提供故障代碼,精確定位軟硬件故障位置。
04 應(yīng)用場(chǎng)景
該測(cè)試設(shè)備可以廣泛應(yīng)用于SOC/MCU、FLASH、EEPROM、Logic、LED Driver、CIS、PMIC等半導(dǎo)體晶圓、 器件測(cè)試和模塊系統(tǒng)級(jí)測(cè)試。
未來(lái),加速科技將繼續(xù)深耕半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,加大創(chuàng)新研發(fā)力度,跟隨產(chǎn)業(yè)發(fā)展潮流,不斷推動(dòng)產(chǎn)品迭代和技術(shù)升級(jí),持續(xù)為客戶提供高性價(jià)比測(cè)試解決方案,賦能半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展。